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Spectromètre de fluorescence X
Équipement de test de laboratoire pour batteries lithium-ion

Spectromètre de fluorescence X

Le spectromètre de fluorescence X (XRF) est un instrument d'analyse élémentaire qui mesure la fluorescence X émise par un matériau exposé à un rayonnement X. La XRF permet une analyse rapide et non destructive d'échantillons solides, liquides et pulvérulents et est couramment utilisée pour l'analyse qualitative et quantitative des matériaux. Elle peut détecter la quasi-totalité des éléments du tableau périodique (à l'exception de l'hydrogène et de l'hélium) et est largement employée dans des domaines tels que la géologie, la surveillance environnementale, la métallurgie, la science des matériaux et l'analyse chimique. Elle est particulièrement adaptée à l'analyse élémentaire des métaux, des minerais, des déchets et des échantillons environnementaux.