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Spettrometru di fluorescenza à raggi X
Attrezzatura di prova di laburatoriu di batterie Li-ion
Spettrometru di fluorescenza à raggi X.jpg

Spettrometru di fluorescenza à raggi X

U Spettrometru di Fluorescenza à Raggi X (XRF) hè un strumentu utilizatu per l'analisi elementale misurendu i raggi X fluorescenti emessi da un materiale quandu hè espostu à a radiazione di raggi X. A XRF permette un'analisi rapida è non distruttiva di campioni solidi, liquidi è in polvere è hè cumunamente utilizata per l'analisi sia qualitativa sia quantitativa di i materiali. Pò rilevà guasi tutti l'elementi di a tavola periodica (eccettu l'idrogenu è l'eliu) è hè largamente applicatu in campi cum'è a geologia, u monitoraghju ambientale, a metallurgia, a scienza di i materiali è l'analisi chimica. Hè particularmente adattatu per l'analisi elementale di metalli, minerali, rifiuti è campioni ambientali.

    Cuntatta ci

    Descrizzione

    Dimensioni (Altezza x Larghezza x Prufundità)

    70 (Larghezza) x 60 (Prufundità) x 38 (Altezza) cm, o 56 cm (Altezza) cù cambiatore di campioni

    Alimentazione elettrica

    100-240V

    urdinatore

    Ordinatore internu cù u sistema operativu Windows

    Dimensione di u campione

    Diametru ≤ 52 mm

    Cambiamentu di Campione

    Bracciu roboticu di cambiamentu automaticu di campioni

    Tipi di Campioni Compatibili

    Campioni solidi, liquidi è in polvere - ùn hè necessaria alcuna digestione acida

    Eccitazione

    4 – 60 kV

    Deriva

    Tecnulugia di filamenti senza tungsteno (ZETA) per una deriva minima di i tubi

    Temperatura di funziunamentu

    10 – 30°C

    Sensibilità

    Finestra sottile di 50 µm per una sensibilità ottimale di l'elementu luminosu

    Prutezzione

    U rivestimentu Chi-blue migliora a prutezzione da a contaminazione di e finestre in berilliu

    Cuntà i fotoni

    6 milioni di fotoni per seconda à 50% di tempu inattivu

    Cunsumu d'energia

    200 W