Li-ion batterij laboratorium testapparatuer

Röntgenfluoreszinsjespektrometer

De X-ray Fluorescentie Spectrometer (XRF) is in ynstrumint dat brûkt wurdt foar elemintêre analyze troch it mjitten fan de fluorescerende röntgenstrielen dy't útstjoerd wurde troch in materiaal as it bleatsteld wurdt oan röntgenstrieling. XRF makket rappe, net-destruktive analyze fan fêste, floeibere en poeiermonsters mooglik en wurdt faak brûkt foar sawol kwalitative as kwantitative analyze fan materialen. It kin hast alle eleminten út it periodyk systeem detektearje (útsein wetterstof en helium) en wurdt breed tapast yn fjilden lykas geology, miljeumonitoring, metallurgy, materiaalkunde en gemyske analyze. It is benammen geskikt foar elemintêre analyze fan metalen, ertsen, ôffal en miljeumonsters.

Kontakt mei ús opnimme

Beskriuwing
Ofmjittings (Hichte x Breedte x Djipte)	70 (Breedte) x 60 (Djipte) x 38 (Hichte) sm, of 56 sm (Hichte) mei samplewikseler
Streamtafier	100-240V
Kompjûter	Ynterne kompjûter mei Windows-bestjoeringssysteem
Stekproefgrutte	Diameter ≤ 52 mm
Foarbyldwikseling	Automatyske robotarm foar it wikseljen fan samples
Kompatible foarbyldtypen	Fêste, floeibere en poeiermonsters - gjin soere spiisfertarring nedich
Opwekking	4 – 60 kV
Drift	Non-wolfraam filamenttechnology (ZETA) foar minimale buisdrift
Bedriuwstemperatuer	10 – 30 °C
Gefoelichheid	50 µm tin finster foar optimale gefoelichheid fan ljochteleminten
Beskerming	Chi-blauwe coating ferbetteret de beskerming tsjin beryllium-finsterfersmoarging
Fotonen telle	6 miljoen fotonen per sekonde by 50% idle-tiid
Enerzjyferbrûk	200 W

Röntgenfluoreszinsjespektrometer

Ynfrareadspektrometer (IR)

QTOF Massespektrometer

Sift

Ionenchromatograaf (IC)

Raman-spektrometer

De kontakthoeke-goniometer