Instrumenta Probationis Laboratorii Batteriae Li-ion

Spectrometrum Fluorescentiae Radiorum X

Spectrometrum Fluorescentiae Radiorum X (XRF) est instrumentum ad analysin elementorum adhibitum, mensurando radios X fluorescentes a materia emissos cum radiationi X exponitur. XRF permittit analysin rapidam et non destructivam exemplorum solidorum, liquidorum, et pulverum, et vulgo adhibetur ad analysin qualitativam et quantitativam materiarum. Fere omnia elementa ex tabula periodica (praeter hydrogenium et helium) detegere potest et late adhibetur in campis ut geologia, monitoria environmentalia, metallurgia, scientia materialium, et analysis chemica. Praesertim aptum est ad analysin elementorum metallorum, minerarum, vastorum, et exemplorum environmentalium.

Contacta nos

Descriptio
Dimensiones (Altitudo × Latitudo × Profunditas)	70 (Latitudo) × 60 (Profunditas) × 38 (Altitudo) cm, vel 56 cm (Altitudo) cum mutatore exemplorum
Fons Potentiae	100-240V
Computatrum	Computatrum internum cum systemate operativo Windows
Magnitudo Exemplaris	Diameter ≤ 52 mm
Commutatio Exemplorum	Bracchium roboticum commutationis exemplaris automaticae
Genera Exemplorum Compatibilia	Exempla solida, liquida et pulverulenta – nulla digestio acida requiritur
Excitatio	4 – 60 kV
Fluctus	Technologia filamenti non-tungsteni (ZETA) ad minimam fluctuationem tubi
Temperatura Operativa	10 – 30°C
Sensibilitatem	Fenestra tenuis 50 µm ad optimam sensibilitatem elementi lucis
Protectio	Tegumentum Chi-blue protectionem contra contaminationem beryllium in fenestris auget
Numeratio Photonum	Sex miliones photonum per secundum ad 50% temporis otii
Consumptio Energiae	200 W

Spectrometrum Fluorescentiae Radiorum X

Spectrometrum Infrarubri (IR)

Spectrometrum Massae QTOF

Cribrum

Chromatographia Ionica (IC)

Spectrometrum Ramanicum

Goniometrum Anguli Contactus