Röntgenfluoreszenzspektrometer

Den Röntgenfluoreszenzspektrometer (XRF) ass en Instrument, dat fir d'Elementaranalyse benotzt gëtt, andeems d'fluoreszent Röntgenstralung gemooss gëtt, déi vun engem Material ausgestraalt gëtt, wann et Röntgenstralung ausgesat ass. XRF erméiglecht eng séier, net-destruktiv Analyse vu festen, flëssegen a pulverfërmegen Proben a gëtt dacks fir souwuel qualitativ wéi och quantitativ Analyse vu Materialien benotzt. E kann bal all Elementer aus dem Periodesystem (ausser Waasserstoff an Helium) detektéieren a gëtt wäit verbreet a Beräicher wéi Geologie, Ëmweltiwwerwaachung, Metallurgie, Materialwëssenschaft a chemescher Analyse agesat. E ass besonnesch gëeegent fir d'Elementaranalyse vu Metaller, Äerzer, Offall an Ëmweltproben.