Röntgenfluorescensspektrometer

Röntgenfluorescensspektrometern (XRF) är ett instrument som används för elementaranalys genom att mäta de fluorescerande röntgenstrålarna som avges av ett material när det utsätts för röntgenstrålning. XRF möjliggör snabb, icke-destruktiv analys av fasta, flytande och pulverprover och används ofta för både kvalitativ och kvantitativ analys av material. Den kan detektera nästan alla element från det periodiska systemet (förutom väte och helium) och används i stor utsträckning inom områden som geologi, miljöövervakning, metallurgi, materialvetenskap och kemisk analys. Den är särskilt lämplig för elementaranalys av metaller, malmer, avfall och miljöprover.