Leave Your Message
Rendgenski fluorescentni spektrometar
Oprema za laboratorijsko ispitivanje litijum-jonskih baterija

Rendgenski fluorescentni spektrometar

Rendgenski fluorescentni spektrometar (XRF) je instrument koji se koristi za elementarnu analizu mjerenjem fluorescentnih rendgenskih zraka koje emituje materijal kada je izložen rendgenskom zračenju. XRF omogućava brzu, nedestruktivnu analizu čvrstih, tečnih i praškastih uzoraka i obično se koristi za kvalitativnu i kvantitativnu analizu materijala. Može detektovati gotovo sve elemente iz periodnog sistema elemenata (osim vodonika i helija) i široko se primjenjuje u oblastima kao što su geologija, praćenje životne sredine, metalurgija, nauka o materijalima i hemijska analiza. Posebno je pogodan za elementarnu analizu metala, ruda, otpada i uzoraka iz životne sredine.