Leave Your Message
Ռենտգենյան ֆլուորեսցենցիայի սպեկտրոմետր
Լիթիում-իոնային մարտկոցների լաբորատոր փորձարկման սարքավորումներ

Ռենտգենյան ֆլուորեսցենցիայի սպեկտրոմետր

Ռենտգենյան ֆլուորեսցենտային սպեկտրոմետրը (XRF) տարրական վերլուծության համար օգտագործվող սարք է՝ չափելով նյութի կողմից արձակվող ֆլուորեսցենտային ռենտգենյան ճառագայթները, երբ այն ենթարկվում է ռենտգենյան ճառագայթման: XRF-ը հնարավորություն է տալիս արագ, ոչ ապակառուցողական վերլուծել պինդ, հեղուկ և փոշու նմուշները և լայնորեն օգտագործվում է նյութերի որակական և քանակական վերլուծության համար: Այն կարող է հայտնաբերել պարբերական աղյուսակի գրեթե բոլոր տարրերը (բացառությամբ ջրածնի և հելիումի) և լայնորեն կիրառվում է այնպիսի ոլորտներում, ինչպիսիք են երկրաբանությունը, շրջակա միջավայրի մոնիթորինգը, մետալուրգիան, նյութագիտությունը և քիմիական վերլուծությունը: Այն հատկապես հարմար է մետաղների, հանքաքարերի, թափոնների և շրջակա միջավայրի նմուշների տարրական վերլուծության համար: