Equip de proves de laboratori de bateries de Li-ion

Espectròmetre de fluorescència de raigs X

L'espectròmetre de fluorescència de raigs X (XRF) és un instrument que s'utilitza per a l'anàlisi elemental mesurant els raigs X fluorescents emesos per un material quan s'exposa a la radiació de raigs X. La XRF permet una anàlisi ràpida i no destructiva de mostres sòlides, líquides i en pols i s'utilitza habitualment tant per a l'anàlisi qualitativa com quantitativa de materials. Pot detectar gairebé tots els elements de la taula periòdica (excepte l'hidrogen i l'heli) i s'aplica àmpliament en camps com la geologia, la monitorització ambiental, la metal·lúrgia, la ciència de materials i l'anàlisi química. És particularment adequat per a l'anàlisi elemental de metalls, minerals, residus i mostres ambientals.

Contacta amb nosaltres

Descripció
Dimensions (Alçada x Amplada x Profunditat)	70 (amplada) x 60 (profunditat) x 38 (alçada) cm, o 56 cm (alçada) amb canviador de mostres
Font d'alimentació	100-240V
Ordinador	Ordinador intern amb sistema operatiu Windows
Mida de la mostra	Diàmetre ≤ 52 mm
Commutació de mostres	Braç robòtic de commutació automàtica de mostres
Tipus de mostra compatibles	Mostres sòlides, líquides i en pols: no cal digestió àcida
Excitació	4 – 60 kV
Deriva	Tecnologia de filaments sense tungstè (ZETA) per a una deriva mínima del tub
Temperatura de funcionament	10 – 30 °C
Sensibilitat	Finestra de 50 µm de gruix per a una sensibilitat òptima dels elements lluminosos
Protecció	El recobriment Chi-blue millora la protecció contra la contaminació de les finestres de beril·li
Recompte de fotons	6 milions de fotons per segon al 50% de temps d'inactivitat
Consum d'energia	200 W

Espectròmetre de fluorescència de raigs X

Espectròmetre d'infrarojos (IR)

Espectròmetre de masses QTOF

sedàs

Cromatògraf iònic (CI)

Espectròmetre Raman

El goniòmetre d'angle de contacte