Ličio jonų akumuliatorių laboratorinių bandymų įranga

Rentgeno spindulių fluorescencijos spektrometras

Rentgeno spindulių fluorescencinis spektrometras (XRF) yra prietaisas, naudojamas elementų analizei, matuojant fluorescencinius rentgeno spindulius, kuriuos skleidžia medžiaga, veikiama rentgeno spinduliuote. XRF leidžia greitai ir neardomai analizuoti kietas, skystas ir miltelių pavidalo mėginius ir yra plačiai naudojamas tiek kokybinei, tiek kiekybinei medžiagų analizei. Jis gali aptikti beveik visus periodinės lentelės elementus (išskyrus vandenilį ir helį) ir yra plačiai taikomas tokiose srityse kaip geologija, aplinkos monitoringas, metalurgija, medžiagų mokslas ir cheminė analizė. Jis ypač tinka metalų, rūdų, atliekų ir aplinkos mėginių elementų analizei.

Susisiekite su mumis

Aprašymas
Matmenys (aukštis x plotis x gylis)	70 (plotis) x 60 (gylis) x 38 (aukštis) cm arba 56 cm (aukštis) su mėginių keitikliu
Maitinimo šaltinis	100–240 V
Kompiuteris	Vidinis kompiuteris su „Windows“ operacine sistema
Imties dydis	Skersmuo ≤ 52 mm
Mėginių perjungimas	Automatinis mėginių perjungimo robotinė ranka
Suderinami mėginių tipai	Kieti, skysti ir miltelių pavidalo mėginiai – rūgštinis skaidymas nereikalingas
Sužadinimas	4–60 kV
Dreifas	Nevolframinių gijų technologija (ZETA), užtikrinanti minimalų vamzdžio poslinkį
Darbinė temperatūra	10–30 °C
Jautrumas	50 µm plonas langas optimaliam šviesos elemento jautrumui
Apsauga	Chi-blue danga pagerina berilio langų apsaugą nuo užteršimo
Fotonų skaičiavimas	6 milijonai fotonų per sekundę esant 50 % prastovos laikui
Energijos suvartojimas	200 W

Rentgeno spindulių fluorescencijos spektrometras

Infraraudonųjų spindulių spektrometras (IR)

QTOF masių spektrometras

Sietas

Jonų chromatografas (IC)

Ramano spektrometras

Kontaktinio kampo goniometras