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Espectrômetro de fluorescência de raios X
Equipamentos de teste de laboratório para baterias de íon-lítio
Espectrômetro de fluorescência de raios X.jpg

Espectrômetro de fluorescência de raios X

O Espectrômetro de Fluorescência de Raios X (XRF) é um instrumento utilizado para análise elementar, medindo os raios X fluorescentes emitidos por um material quando exposto à radiação de raios X. O XRF permite a análise rápida e não destrutiva de amostras sólidas, líquidas e em pó, sendo comumente utilizado tanto para análises qualitativas quanto quantitativas de materiais. Ele pode detectar quase todos os elementos da tabela periódica (exceto hidrogênio e hélio) e é amplamente aplicado em áreas como geologia, monitoramento ambiental, metalurgia, ciência dos materiais e análise química. É particularmente adequado para a análise elementar de metais, minérios, resíduos e amostras ambientais.

    Contate-nos

    Descrição

    Dimensões (Altura x Largura x Profundidade)

    70 (Largura) x 60 (Profundidade) x 38 (Altura) cm, ou 56 cm (Altura) com trocador de amostras.

    Fonte de energia

    100-240V

    Computador

    Computador interno com sistema operacional Windows

    Tamanho da amostra

    Diâmetro ≤ 52 mm

    Comutação de amostras

    Braço robótico para troca automática de amostras

    Tipos de amostra compatíveis

    Amostras sólidas, líquidas e em pó – sem necessidade de digestão ácida.

    Excitação

    4 – 60 kV

    Deriva

    Tecnologia de filamento sem tungstênio (ZETA) para mínima deriva do tubo

    Temperatura de operação

    10 – 30°C

    Sensibilidade

    Janela fina de 50 µm para sensibilidade ideal do elemento de luz.

    Proteção

    O revestimento Chi-blue aumenta a proteção contra contaminação em janelas de berílio.

    Contagem de fótons

    6 milhões de fótons por segundo com 50% de tempo ocioso

    Consumo de energia

    200 W