Kagamitan sa Pagsubok sa Laboratoryo ng Baterya ng Li-ion

Ispektrometro ng Fluorescence ng Sinag ng X

Ang X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF) ay isang instrumentong ginagamit para sa elemental analysis sa pamamagitan ng pagsukat ng fluorescent X-ray na inilalabas ng isang materyal kapag ito ay nalantad sa X-ray radiation. Ang XRF ay nagbibigay-daan sa mabilis at hindi mapanirang pagsusuri ng mga solid, likido, at pulbos na sample at karaniwang ginagamit para sa parehong qualitative at quantitative na pagsusuri ng mga materyales. Maaari nitong matukoy ang halos lahat ng elemento mula sa periodic table (maliban sa hydrogen at helium) at malawakang ginagamit sa mga larangan tulad ng heolohiya, pagsubaybay sa kapaligiran, metalurhiya, agham ng materyales, at pagsusuri ng kemikal. Ito ay partikular na angkop para sa elemental analysis ng mga metal, ore, basura, at mga sample sa kapaligiran.

Makipag-ugnayan sa amin

Paglalarawan
Mga Dimensyon (Taas x Lapad x Lalim)	70 (Lapad) x 60 (Lalim) x 38 (Taas) cm, o 56 cm (Taas) na may sample changer
Suplay ng Kuryente	100-240V
Kompyuter	Panloob na kompyuter na may Windows operating system
Laki ng Sample	Diyametro ≤ 52 mm
Paglipat ng Sample	Awtomatikong paglipat ng sample na robotic arm
Mga Tugma na Uri ng Sample	Mga sample ng solid, likido, at pulbos – hindi kinakailangan ang acid digestion
Pagganyak	4 – 60 kV
Pag-anod	Teknolohiyang non-tungsten filament (ZETA) para sa minimal na pag-agos ng tubo
Temperatura ng Operasyon	10 – 30°C
Sensitibo	50 µm na manipis na bintana para sa pinakamainam na sensitibidad ng elemento ng liwanag
Proteksyon	Pinahuhusay ng Chi-blue coating ang proteksyon laban sa kontaminasyon ng beryllium window
Pagbibilang ng Photon	6 milyong photon kada segundo sa 50% na oras ng pagtigil
Pagkonsumo ng Kuryente	200 W

Ispektrometro ng Fluorescence ng Sinag ng X

Infrared Spectrometer (IR)

QTOF Mass Spectrometer

Salain

Kromatograpo ng Ion (IC)

Raman Spectrometer

Ang Goniometer ng Anggulo ng Kontak