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Spettrometro a fluorescenza a raggi X
Apparecchiature di laboratorio per il collaudo di batterie agli ioni di litio

Spettrometro a fluorescenza a raggi X

Lo spettrometro a fluorescenza a raggi X (XRF) è uno strumento utilizzato per l'analisi elementare misurando i raggi X fluorescenti emessi da un materiale quando viene esposto a radiazioni X. L'XRF consente un'analisi rapida e non distruttiva di campioni solidi, liquidi e in polvere ed è comunemente utilizzato sia per l'analisi qualitativa che quantitativa dei materiali. È in grado di rilevare quasi tutti gli elementi della tavola periodica (ad eccezione di idrogeno ed elio) ed è ampiamente utilizzato in campi quali geologia, monitoraggio ambientale, metallurgia, scienza dei materiali e analisi chimica. È particolarmente adatto per l'analisi elementare di metalli, minerali, rifiuti e campioni ambientali.