Kagamitan sa Pagsulay sa Laboratoryo sa Baterya sa Li-ion

Ispektrometro sa Fluorescence sa X-ray

Ang X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF) usa ka instrumento nga gigamit alang sa elemental analysis pinaagi sa pagsukod sa fluorescent X-rays nga gipagawas sa usa ka materyal kung kini maladlad sa X-ray radiation. Ang XRF nagtugot sa paspas, dili makadaot nga pag-analisa sa solid, likido, ug pulbos nga mga sample ug kasagarang gigamit alang sa qualitative ug quantitative nga pag-analisa sa mga materyales. Makamatikod kini sa halos tanan nga mga elemento gikan sa periodic table (gawas sa hydrogen ug helium) ug kaylap nga gigamit sa mga natad sama sa geology, environmental monitoring, metalurhiya, materials science, ug chemical analysis. Kini labi nga angay alang sa elemental analysis sa mga metal, ore, basura, ug mga sample sa kalikopan.

Kontaka kami

Deskripsyon
Mga Sukod (Gitas-on x Lapad x Giladmon)	70 (Lapad) x 60 (Giladmon) x 38 (Gitas-on) cm, o 56 cm (Gitas-on) uban ang sample changer
Suplay sa Kuryente	100-240V
Kompyuter	Internal nga kompyuter nga adunay Windows operating system
Gidak-on sa Sampol	Diametro ≤ 52 mm
Pagbalhin sa Sample	Awtomatikong pag-ilis sa sample nga robotic arm
Mga Kompatible nga Tipo sa Sample	Mga sample nga solido, likido, ug pulbos – dili kinahanglan ang acid digestion
Kahinam	4 – 60 kV
Pag-anod	Teknolohiya nga dili tungsten filament (ZETA) para sa gamay nga pag-anod sa tubo
Temperatura sa Pag-operate	10 – 30°C
Sensitibo	50 µm nga nipis nga bintana para sa labing maayong pagkasensitibo sa elemento sa kahayag
Proteksyon	Ang Chi-blue coating nagpalambo sa proteksyon sa kontaminasyon sa bintana nga beryllium
Pag-ihap sa Photon	6 milyon nga mga photon kada segundo sa 50% nga idle time
Konsumo sa Kusog	200 W

Ispektrometro sa Fluorescence sa X-ray

Infrared nga Ispektrometro (IR)

QTOF Mass Spectrometer

Salaan

Ion Chromatograph (IC)

Raman Spectrometer

Ang Goniometer sa Anggulo sa Kontak