Oprema za laboratorijsko ispitivanje litij-ionskih baterija

Rendgenski fluorescentni spektrometar

Rendgenski fluorescentni spektrometar (XRF) je instrument koji se koristi za elementarnu analizu mjerenjem fluorescentnih rendgenskih zraka koje emitira materijal kada je izložen rendgenskom zračenju. XRF omogućuje brzu, nerazornu analizu čvrstih, tekućih i praškastih uzoraka te se obično koristi za kvalitativnu i kvantitativnu analizu materijala. Može detektirati gotovo sve elemente iz periodnog sustava elemenata (osim vodika i helija) i široko se primjenjuje u područjima kao što su geologija, praćenje okoliša, metalurgija, znanost o materijalima i kemijska analiza. Posebno je prikladan za elementarnu analizu metala, ruda, otpada i uzoraka iz okoliša.

Kontaktirajte nas

Opis
Dimenzije (visina x širina x dubina)	70 (širina) x 60 (dubina) x 38 (visina) cm ili 56 cm (visina) s mjenjačem uzoraka
Napajanje	100-240 V
Računalo	Interno računalo s Windows operativnim sustavom
Veličina uzorka	Promjer ≤ 52 mm
Prebacivanje uzorka	Robotska ruka s automatskim prebacivanjem uzoraka
Kompatibilne vrste uzoraka	Čvrsti, tekući i praškasti uzorci – nije potrebna razgradnja kiselinom
Uzbuđenje	4 – 60 kV
Drift	Tehnologija bez volframovih niti (ZETA) za minimalno pomicanje cijevi
Radna temperatura	10 – 30°C
Osjetljivost	Prozorčić debljine 50 µm za optimalnu osjetljivost svjetlosnih elemenata
Zaštita	Chi-blue premaz poboljšava zaštitu prozora od onečišćenja berilijem
Brojanje fotona	6 milijuna fotona u sekundi pri 50% vremena neaktivnosti
Potrošnja energije	200 W

Rendgenski fluorescentni spektrometar

Infracrveni spektrometar (IR)

QTOF maseni spektrometar

Sito

Ionski kromatograf (IC)

Ramanov spektrometar

Goniometar kontaktnog kuta