Peralatan Pengujian Laboratorium Baterai Li-ion

Spektrometer Fluoresensi Sinar-X

Spektrometer Fluoresensi Sinar-X (XRF) adalah instrumen yang digunakan untuk analisis unsur dengan mengukur sinar-X fluoresen yang dipancarkan oleh suatu material ketika terpapar radiasi sinar-X. XRF memungkinkan analisis cepat dan non-destruktif pada sampel padat, cair, dan bubuk, dan umumnya digunakan untuk analisis kualitatif dan kuantitatif material. XRF dapat mendeteksi hampir semua unsur dari tabel periodik (kecuali hidrogen dan helium) dan banyak diterapkan di berbagai bidang seperti geologi, pemantauan lingkungan, metalurgi, ilmu material, dan analisis kimia. XRF sangat cocok untuk analisis unsur logam, bijih, limbah, dan sampel lingkungan.

Hubungi kami

Keterangan
Dimensi (Tinggi x Lebar x Kedalaman)	70 (Lebar) x 60 (Kedalaman) x 38 (Tinggi) cm, atau 56 cm (Tinggi) dengan pengubah sampel
Catu Daya	Tegangan 100-240V
Komputer	Komputer internal dengan sistem operasi Windows
Ukuran Sampel	Diameter ≤ 52 mm
Pengalihan Sampel	Lengan robot pengalih sampel otomatis
Jenis Sampel yang Kompatibel	Sampel padat, cair, dan bubuk – tidak memerlukan pencernaan asam.
Perangsangan	4 – 60 kV
Melayang	Teknologi filamen non-tungsten (ZETA) untuk meminimalkan pergeseran tabung.
Suhu Operasional	10 – 30°C
Kepekaan	Jendela tipis 50 µm untuk sensitivitas elemen cahaya yang optimal.
Perlindungan	Lapisan Chi-blue meningkatkan perlindungan terhadap kontaminasi jendela berilium.
Penghitungan Foton	6 juta foton per detik pada waktu idle 50%
Konsumsi Daya	200 W

Spektrometer Fluoresensi Sinar-X

Spektrometer Inframerah (IR)

Spektrometer Massa QTOF

Saringan

Kromatografi Ion (IC)

Spektrometer Raman

Goniometer Sudut Kontak