Peralatan Pengujian Makmal Bateri Li-ion

Spektrometer Pendarfluor Sinar-X

Spektrometer Pendarfluor Sinar-X (XRF) ialah instrumen yang digunakan untuk analisis unsur dengan mengukur sinar-X pendarfluor yang dipancarkan oleh bahan apabila ia terdedah kepada sinaran sinar-X. XRF membolehkan analisis sampel pepejal, cecair dan serbuk yang pantas dan tidak merosakkan serta biasanya digunakan untuk analisis kualitatif dan kuantitatif bahan. Ia boleh mengesan hampir semua unsur daripada jadual berkala (kecuali hidrogen dan helium) dan digunakan secara meluas dalam bidang seperti geologi, pemantauan alam sekitar, metalurgi, sains bahan dan analisis kimia. Ia amat sesuai untuk analisis unsur logam, bijih, sisa dan sampel alam sekitar.

Hubungi kami

Penerangan
Dimensi (Tinggi x Lebar x Dalam)	70 (Lebar) x 60 (Kedalaman) x 38 (Tinggi) cm, atau 56 cm (Tinggi) dengan penukar sampel
Bekalan Kuasa	100-240V
Komputer	Komputer dalaman dengan sistem pengendalian Windows
Saiz Sampel	Diameter ≤ 52 mm
Penukaran Sampel	Lengan robot pensuisan sampel automatik
Jenis Sampel yang Serasi	Sampel pepejal, cecair dan serbuk – tiada pencernaan asid diperlukan
Pengujaan	4 – 60 kV
Hanyut	Teknologi filamen bukan tungsten (ZETA) untuk hanyutan tiub yang minimum
Suhu Operasi	10 – 30°C
Kepekaan	Tingkap nipis 50 µm untuk kepekaan elemen cahaya yang optimum
Perlindungan	Salutan biru-Chi meningkatkan perlindungan pencemaran tingkap berilium
Pengiraan Foton	6 juta foton sesaat pada 50% masa terbiar
Penggunaan Kuasa	200 W

Spektrometer Pendarfluor Sinar-X

Spektrometer Inframerah (IR)

Spektrometer Jisim QTOF

Penapis

Kromatograf Ion (IC)

Spektrometer Raman

Goniometer Sudut Sentuh