Лабораторное испытательное оборудование для литий-ионных батарей

Рентгенофлуоресцентный спектрометр

Рентгенофлуоресцентный спектрометр (XRF) — это прибор, используемый для элементного анализа путем измерения флуоресцентных рентгеновских лучей, испускаемых материалом при облучении рентгеновскими лучами. XRF позволяет проводить быстрый неразрушающий анализ твердых, жидких и порошкообразных образцов и широко используется как для качественного, так и для количественного анализа материалов. Он может обнаруживать почти все элементы периодической таблицы (кроме водорода и гелия) и широко применяется в таких областях, как геология, мониторинг окружающей среды, металлургия, материаловедение и химический анализ. Он особенно подходит для элементного анализа металлов, руд, отходов и образцов окружающей среды.

Связаться с нами

Описание
Габариты (высота x ширина x глубина)	70 (ширина) x 60 (глубина) x 38 (высота) см или 56 см (высота) с устройством для смены проб.
Источник питания	100-240 В
Компьютер	Внутренний компьютер с операционной системой Windows.
Размер выборки	Диаметр ≤ 52 мм
Переключение выборок	Автоматическая роботизированная рука для переключения образцов
Совместимые типы образцов	Твердые, жидкие и порошкообразные образцы – кислотное разложение не требуется.
Возбуждение	4–60 кВ
Дрифт	Технология без вольфрамовой нити (ZETA) для минимизации дрейфа трубки.
Рабочая температура	10–30°C
Чувствительность	Тонкое окно толщиной 50 мкм для оптимальной чувствительности светового элемента.
Защита	Покрытие Chi-blue повышает защиту бериллиевых окон от загрязнения.
Подсчет фотонов	6 миллионов фотонов в секунду при 50% времени простоя
Потребление электроэнергии	200 Вт

Рентгенофлуоресцентный спектрометр

Инфракрасный спектрометр (ИК)

QTOF масс-спектрометр

Сито

Ионный хроматограф (ИК)

Рамановский спектрометр

Гониометр для измерения контактного угла