Raman Spektrometer
Projet | Parameter |
Wellelängt | Standard: 532 nm, Optional: 638 nm, 785 nm |
Laserkraaft | >60(532nm),>25(638nm),>50(785nm) |
Raman-Verschiebungsberäich | 80-9000@532nm,80-6000@638nm,80-3200@785nm |
Mikroskop | Invertéiert Mikroskop |
Beispillphase | Standard: Manuell, Federwee 102105 mm |
Optional: Motoriséiert Bühn, Federwee 7550 mm | |
Objektivlëns | 10x, 50x, 100x, Semi-apochromatesch |
Incidentbeliichtung | LED Liichtquell |
Spektrometer | 320 mm Brennwäit, Czerny-Turner-Stil |
Spektral CCD | ≥2000x256 Pixel, Réckbeliichte Chip mat Déifopléisung, QE > 90%, Spezialiséiert op siichtbar an noen Infrarout |
Gitterkonfiguratioun | 1800g/500nm geblëtzt |
600g/500nm geblëtzt | |
150g/500nm geblëtzt | |
Spektral Opléisung | 1,5 cm-1 |
Signal-Rausch-Verhältnis | > 30:1 |
Räumlech Opléisung | Vertikal Opléisung: |
Horizontal Opléisung: |


