Atom-Absorba Spektrometro (AAS)
Projekto | Ĉefa Trajto | |
Optika Sistemo | Ondolonga Gamo | （190～900）nm |
Spektra Bendolarĝo | (0.1, 0.2, 0.4, 1.0, 2.0) nm kvin-ŝtupa aŭtomata ŝaltado | |
Monokromatoro | CT-krada monokromatoro | |
Ondolonga Precizeco | ±0.1nm | |
Ondolonga Ripeteblo | ≤0.05nm | |
Denseco de kradolinio | 1800 linioj/mm | |
Flamo Ondolongo | 250nm | |
Rezolucio | Pli bona ol 0.1 nm | |
Bazlinia Stabileco | ≤0,003 A/30 min (dinamika) ≤0,002 A/30 min (statika) | |
| Flama Analizo | Karakteriza Koncentriĝo de Cu | ≤0.02 μg/mL/1% |
Detekto-Limo | ≤0.003 μg/mL | |
Preciza RSD | ≤0.45% | |
Brulila Kapo | Kongrua kun 100 mm plena titania brulilkapo aŭ 50 mm rustorezista ŝtala brulilkapo | |
Pozicia Alĝustigo | Alĝustigo de alteco kaj angulo por optimuma poziciigo, anstataŭigo de flamo/hidrido kompletigita ene de unu minuto | |
Nebulizilo | Norma alt-efikeca vitra nebulizilo kaj tute titania metala nebulizilo; tute titania metala nebulizilo taŭgas por analizi specimenojn enhavantajn korodan HF | |
Analizo de Grafita Forno | Karakteriza Koncentriĝo de Cd | 0,5×10⁻¹²g |
Detekto-Limo | 10×10⁻¹²g | |
Temperaturkontrola Gamo | Ĉambra temperaturo ĝis 2700 °C | |
Preciza RSD | ≤3.0% | |
Temperatura Programo | Ĝis 20-ŝtupa hejta programo, kun tri hejtaj metodoj: paŝo, deklivo kaj teno. | |
Hejta Rapideco | ≥2500℃/s | |
Potenco Hejtado-Indico | ≥2000℃/s | |
Precizeco de Temperaturkontrolo | ≤ 1% | |
Temperatura Reproduktebleco | ≤ 0.5% |